接觸電阻測試的典型方法

接觸電阻測試的典型方法

　　四線（開爾文）直流電壓降是微歐表用于接觸電阻測試的典型方法，通過消除自身的接觸電阻和測試引線的電阻來確保更準確的測量。

　　接觸電阻測試使用兩個電流連接進行注入，使用兩個電位引線進行電壓降測量；電壓電纜必須盡可能靠近要測試的連接，并且始終位于連接的電流引線形成的電路內(nèi)。

　　根據(jù)電壓降的測量，微處理器控制的微歐表計算接觸電阻，同時消除連接中的熱 EMF 效應可能產(chǎn)生的誤差（熱 EMF 是兩種不同金屬連接在一起時產(chǎn)生的小熱電偶電壓）它們將被添加到測量的總電壓降中，如果不通過不同的方法（極性反轉(zhuǎn)和平均，直接測量熱 EMF 幅度等）從測量中減去它們，則會在接觸電阻測試中引入誤差。

　　如果在使用低電流測試斷路器接觸電阻時獲得低電阻讀數(shù)，則建議在更高電流下重新測試觸點。為什么我們會受益于使用更高的電流？較高的電流將能夠克服端子上的連接問題和氧化，在這些條件下，較低的電流可能會產(chǎn)生錯誤的（較高的）讀數(shù)。

　　在接觸電阻測試中保持一致的測量條件非常重要，以便能夠與之前和未來的結(jié)果進行比較以進行趨勢分析。因此，在進行定期測量時，必須在相同的位置、使用相同的測試引線（始終使用制造商提供的校準電纜）和相同的條件下進行接觸電阻測試，以便能夠知道何時連接、連接、焊接或設備將變得不安全。

　　結(jié)論

　　熱導率的測量也受到接觸電阻的影響，在通過顆粒介質(zhì)的熱傳輸中具有特別重要的意義。類似地，當流體從一個通道過渡到另一個通道時，靜水壓力（類似于電壓）會下降。

　　接觸電阻測試提供有關(guān)接觸的健康程度及其處理額定電流的能力的信息。

　　最大接觸電阻應根據(jù)制造商的規(guī)格進行驗證。不應超過額定電流，建議在額定電流的 10% 下進行測試。